XFPA-1.7-640-LN2

XFPA-1.7-640-LN2

LN2制冷型高分辨率SWIR探测器

低噪声,高灵敏度


XFPA-1.7-640-LN2系列在各种R&D光谱学或半导体故障分析任务中表现出色。这些要求严格的应用需要测量非常低的微光水平,从而需要具有非常低暗电流、低噪音并且在SWIR范围具有最佳响应度的摄像机。 现在,所有这些特征都集中在单台设备中。

XFPA-1.7-640-LN2系列所配备的内部开发InGaAs探测器 针对77K 运行条件进行优化,使用液氮(LN2) 制冷,并且基于SFD(源极跟随检测) 读出协议,以实现前所未有的超低噪音水平 (<20 e-)。 此外,超低的暗电流(低于5e-/像素) 可实现长达数个小时的积分时间。

640 x 512高分辨率InGaAs 探测器的像素尺寸为20 μm,并且具备 2.5 Hz的最大全帧速率 。 如果选择较小的ROI区域, 则可提高其帧速率 。 在使用较长的 积分时间时,无损读出模式可简化操作。

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产品特性

  • 可将SWIR成像扩展到可见光范围
    可选装VISNIR探测器,以获得在500 - 1550 nm范围的探测响应
  • 超长积分时间
    低温(LN2制冷)、低暗电流的SFD基InGaAs探测器,可实现长时间曝光
  • 高灵敏度
    低噪音,可获得高灵敏度
  • 低暗电流
    低温(LN2制冷)、低暗电流的SFD基InGaAs探测器
  • 最低噪音
    低读出噪音的SFD基InGaAs探测器
  • 测量超低光线信号
    低温(LN2制冷)、低暗电流的SFD基InGaAs探测器,可实现长时间曝光

应用领域

  • 天文学
    天文学的各种应用——激光导星、地外行星探测等等
  • 通过光子辐射或电致发光进行故障分析
    使用制冷型SWIR相机探测微弱的光线
  • 高分辨率成像光谱学
    能够采用适当的光谱学光学器件进行光谱学分析
  • 微光SWIR & VisNIR成像
    SWIR相机可用于日间和星光(夜辉)条件的成像
  • 拉曼(Raman)光谱学
    在模拟1,064 nm激光环境下探测拉曼位移(Raman shift)

特性

开窗模式(ROI模式)

Imaging in a reduced window of interest for increased frame rates

高灵敏度

Low noise for detection of small signals

高分辨率

640x512 pixel resolution

 

摄像头规格

芯片参数

芯片参数 XFPA-1.7-640-LN2 XFPA-1.7-640-LN2
Array characteristics  
Array type InGaAs
Spectral band 0.85 μm to 1.6 μm (optional: 0.4 μm to 1.6 μm)
Resolution 640 x 512
Pixel pitch 20 μm
Array cooling LN2
Frame rate (full frame) 2.5 Hz (4 output mode)
# outputs 1 4
Integration time range Up to 24 hours
Pixel operability > 98 %
Detector characteristics  
Peak sensitivity wavelength 1.5 μm
Peak Quantum Efficiency (QE) > 80 %
Windowing Yes  
ITR and IWR Yes
Ambient operating temperature range 77 - 300 K
Pixel clock frequency 20 kHz or 250 kHz
Power consumption 2 W
Power supply 3.3 V
Gain 2.2 μV/e-
Pixel well depth 400.000 e-
Noise < 20 e-
Dark current < 5 e-/s
Dynamic range 100 dB

配件

软件

文件

新闻发布
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