XS-1.7-320

XS-1.7-320

高度灵活性,便于SWIR成像研究

紧凑型结构,小巧,即插即用,非制冷短波红外相机


在一个紧凑的外壳内, Xeva-1.7-320数码摄像机装备了 一台热电制冷InGaAs探测器装置和控制通讯电子部件。

XS-1.7-320系列可配备 标准InGaAs探测器阵列, 工作范围可达1.7 μm,并且可提供 60 Hz和100 Hz速度版本。 其 可允许您为您的特定研究应用 选择最适合的 探测器摄像机配置。

该摄像机装置可通过标准的USB 2.0接口连接到个人电脑。 每款摄像机都随附一款图解式用户界面软件 ,该界面可允许对各种摄像机设置进行直接读写, 例如曝光时间和增益设置。 这款摄像机可输出14-bit数据。 这款 软件套件括两点 均匀性修正和坏点 替换功能。

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产品特性

  • 可将SWIR成像扩展到可见光范围
    VISNIR或可见光增强型InGaAs传感器,可实现从500到1700 nm范围的扩展响应
  • 开放性架构,可灵活编程
    可为所有相机型号提供SDK(软件开发套件)——可提供用于C++、LabView、Linux的范例
  • 紧凑型摄像机实现的高图像质量
    320x256 SWIR成像,具备高灵敏度和高动态范围模式
  • 性能优化
    简易和持续的读写,可控制各种参数,例如积分时间和帧速率
  • 单机运行
    这款相机可直接连接到显示器(通过模拟输出),而无需使用个人电脑对摄像机进行控制
  • 触发用于同步运行
    触发接口可用于将该摄像机与激光光源同步,或控制画面采集
  • TrueNUC图像修正
    图像修正可有效应用于广泛的积分时间
  • USB 2.0接口
    即插即用数码数据和控制接口,兼容所有个人电脑和笔记本电脑

应用领域

  • 高光谱成像
    结合光谱成像和2D成像 我们的SWIR摄像机可用于高光谱SWIR成像
  • 激光束分析
    激光束分析,可用于红外激光,例如1064、1300和1550 nm范围
  • R&D (SWIR领域)
    SWIR领域是一个相对未开发的领域,因此可提供较多的研究机会
  • 太阳能电池检测
    用于裂缝检测的检测技术或基于电致发光或光致发光效率映射
  • 热物体的热成像(200°C到800°C范围)
    SWIR相机可用于高温物体(玻璃、金属等等)的热成像和热测量

特性

含红外(IR)软件

Xeneth camera control and imaging software is included

单机运行

The camera can run autonomously without the need for PC control

SWaP(小型化、轻量化和低功耗)

Small volume, low weight and low power consumption for demanding applications

触发

External trigger for signal synchronization

14 bit图像

Digitization: The camera uses a 14 bit ADC

TrueNUC图像修正

Non uniformity correction for a wide range of integration times

高动态范围

High dynamic range mode available

 

摄像头规格

芯片参数 XS-1.7-320
Array type InGaAs
Spectral band 0.9 μm to 1.7 μm (VisNIR optional 0.4 to 1.7 μm)
Resolution 320 x 256
Pixel pitch 30 μm
Array cooling Uncooled
Pixel operability > 99 %
相机参数 XS Base XS Analog XS Trigger
Lens
Focal length 16 mm f/1.4
Optical interface C-mount
Imaging performance
Maximum frame rate (full frame) 60 Hz 100 Hz
Integration type Snapshot
Integration time range 1 μs - 20 ms
Noise level: Low gain 4 AD counts
Noise level: High gain 15 AD counts
S/N ratio: Low gain 69 dB
S/N ratio: High gain 60 dB
ADC 14 bit
Interfaces
Camera control USB 2.0
Image acquisition USB 2.0  
Trigger - TTL levels
Graphical User Interface (GUI) Xeneth Basic Xeneth Advanced
Power requirements
Power consumption 4 W
Power supply 12 V
Physical characteristics
Camera cooling Uncooled  
Ambient operating temperature range 0°C to 50°C
Dimensions (W x H x L mm³) 50 x 50 x 50
Weight camera head 225 g

配件

软件

  • Xeneth Basic
  • Xeneth Advanced
  • Xeneth SDK
  • Xeneth Labview SDK

文件

新闻发布
VisNIR option available on our Xeva and XS InGaAs camerasExtending the image capture range of our Xeva and XS into the visible realm, covering a total wavelength area of 0,4 to 1.7 μm (2007)
应用笔记
Imaging of guided and scattered light from PICsIn order to characterise compact planar optical devices it is necessary to couple light from off-chip sources, and to laboratory based measurement equipment, using standard optical fibre technology. Given the small waveguide cross-sectional area it is often difficult to align both input and output fibres to the PIC using only a top, visible microscope image as a positional guide. This alignment can be significantly accelerated using a SWIR video-rate camera. In the experiments the Xenics XS-1.7-320 InGaAs camera is used.

Xeneth LabVIEW软件开发套件(SDK)

Xenics摄像机的LabVIEW工具套件可提供 高水平的范例以及低水平的VI案例,便于编程人员将Xenics 摄像机集成到他们使用LabVIEW编写的软件 应用中。

Jan Šíma, Business Development Manager, ELCOM, a.s.
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